摘要：電子荷質(zhì)比是近代物理中研究帶電微粒的重要實(shí)驗(yàn)課題，也是近代物理中研究粒子結(jié)構(gòu)實(shí)驗(yàn)的重要數(shù)據(jù)，具有十分重要的意義。自從湯姆遜第一個(gè)測量出電子荷質(zhì)比后，隨著當(dāng)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，物理學(xué)家們又設(shè)計(jì)出了一些更方便、更準(zhǔn)確的測量電子荷質(zhì)比的實(shí)驗(yàn)方法及實(shí)驗(yàn)裝置。比如電偏轉(zhuǎn)法、磁偏轉(zhuǎn)法、電磁偏轉(zhuǎn)法、磁聚焦法和塞曼效應(yīng)測荷質(zhì)比等，本課題主要是對(duì)磁聚焦法和塞曼效應(yīng)測荷質(zhì)比兩種實(shí)驗(yàn)方法進(jìn)行了比較研究。

關(guān)鍵字：電子荷質(zhì)比； 磁聚焦； 塞曼效應(yīng)

目錄

摘要

Abstract

1、前言-5

2、磁聚焦法測量電子荷質(zhì)比-5

2.1、磁聚焦法測量電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)原理-5

2.2、磁聚焦法測量電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)-8

2.2.1、儀器介紹-8

2.2.2、實(shí)驗(yàn)步驟-8

2.3、實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)-9

2.4、誤差分析-9

3、塞曼效應(yīng)法測量電子荷質(zhì)比-10

3.1、塞曼效應(yīng)法測量電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)原理-10

3.2、塞曼效應(yīng)法測量電子荷質(zhì)比實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)-11

3.2.1、光路調(diào)節(jié)-11

3.2.2、軟件分析-12

3.3、塞曼效應(yīng)法測量電子荷質(zhì)比數(shù)據(jù)整理-13

3.4、誤差分析-15

3.5、注意事項(xiàng)-16

4、兩種實(shí)驗(yàn)方法的分析與比較-16

4.1、實(shí)驗(yàn)誤差的討論-16

4.2、實(shí)驗(yàn)方法和實(shí)驗(yàn)結(jié)果的比較-16

參考文獻(xiàn)-18

致  謝-19